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隆安
2026-01-07 10:06:24
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
bin老化房是電子、汽車、航空領(lǐng)域高溫環(huán)境可靠性測試的核心設(shè)備，選型需關(guān)注溫度范圍、控制精度、負(fù)載能力及安全聯(lián)鎖。典型應(yīng)用包括功率器件、電池組、PCB板的老化篩選，關(guān)鍵參數(shù)為溫度均勻性（±2℃內(nèi)）、升溫速率（≥3℃/min）及數(shù)據(jù)采樣率（≥1次/秒）。采購流程需通過需求確認(rèn)、技術(shù)協(xié)議、FAT/SAT驗收及計量校準(zhǔn)，推薦優(yōu)先選擇符合IEC 60068-2-78標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| bin老化房典型溫度范圍 | RT+10℃~200℃（部分可達300℃） |
| 核心選型參數(shù) | 溫度均勻性、負(fù)載容量、控制方式 |
| 關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-78、GB/T 2423.2 |
| 常見故障 | 加熱管斷路、傳感器偏移、聯(lián)鎖失效 |
| 維護周期 | 每3個月校準(zhǔn)溫度傳感器，每年更換加熱管 |
bin老化房通過強制熱風(fēng)循環(huán)或紅外輻射實現(xiàn)高溫環(huán)境模擬，主要用于電子元器件（如IGBT模塊、電容）、電池組及PCB板的可靠性加速測試。其核心參數(shù)包括：
應(yīng)用場景：華為2025年發(fā)布的5G基站電源模塊老化測試中，bin老化房在85℃/85%RH條件下連續(xù)運行1000小時，篩選出早期失效元件，使現(xiàn)場故障率降低67%。
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度分辨率 | 最小顯示單位 | 0.1℃ | 影響小信號檢測 |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)記錄頻率 | 1次/秒 | 決定故障追溯精度 |
| 負(fù)載密度 | 單位體積試樣功率 | ≤50W/dm3 | 避免局部過熱 |
| 型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安LA-200B | RT~200℃ | 20%~98%RH | 2m3 | ±1℃ | IEC 60068-2-78 | 多通道數(shù)據(jù)采集 |
| 愛斯佩克WSL-150 | RT~180℃ | 10%~95%RH | 1.5m3 | ±2℃ | GB/T 2423.2 | 遠程監(jiān)控接口 |
| CSZ EHS-300 | RT~300℃ | 干燥模式 | 3m3 | ±3℃ | MIL-STD-810G | 防爆設(shè)計 |
致：XXX公司 請?zhí)峁┮韵略O(shè)備報價： 1. 型號：LA-200B 2. 溫度范圍：RT~200℃ 3. 配置：PID控制+9點溫度記錄 4. 交付周期：合同簽訂后60天 5. 包含服務(wù)：FAT/SAT支持、首次校準(zhǔn)
bin老化房強調(diào)溫度均勻性（±2℃內(nèi)）和長時間穩(wěn)定性（連續(xù)運行≥1000小時），配備數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)；普通烘箱溫度偏差可達±5℃，無連續(xù)監(jiān)控功能。
采用9點法測量：在工作室上、中、下三層各布置3個傳感器，空載運行至穩(wěn)定狀態(tài)后，記錄1小時內(nèi)最大溫差。IEC 60068-2-78要求均勻性≤±2℃。
立即停止測試，檢查：1）加熱管是否短路；2）溫度傳感器是否移位；3）通風(fēng)口是否堵塞。2025年某汽車電子廠商因未及時處理超溫報警，導(dǎo)致價值50萬元的測試樣品損毀。
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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