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隆安
2025-12-17 14:08:36
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
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低溫試驗箱的英文縮寫為LTC（Low Temperature Chamber），是環(huán)境模擬測試中用于評估材料/產(chǎn)品在低溫工況下性能的核心設(shè)備。選型時需重點關(guān)注溫度范圍、控制精度、負(fù)載能力及安全聯(lián)鎖設(shè)計，避免因參數(shù)不匹配導(dǎo)致測試失效或設(shè)備故障。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 低溫試驗箱英文縮寫 | LTC（Low Temperature Chamber） |
| 核心選型參數(shù) | 溫度范圍、控制精度、負(fù)載能力、安全聯(lián)鎖 |
| 典型應(yīng)用場景 | 軍工電子、航空航天、汽車零部件、新能源電池低溫性能測試 |
| 關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 、IEC 60068-2-1:2007 |
| 常見故障 | 制冷系統(tǒng)泄漏、溫度波動超標(biāo)、傳感器失效 |
低溫試驗箱通過模擬極端低溫環(huán)境（如-70℃至-20℃），評估材料/產(chǎn)品在低溫工況下的物理性能（如脆化、收縮）、電氣性能（如絕緣電阻下降）及機械可靠性（如密封件失效）。典型應(yīng)用場景包括：
| 參數(shù) | 定義 | 典型值（工業(yè)級LTC） |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 箱內(nèi)可達(dá)到的最低至最高溫度 | -70℃～+150℃ |
| 控制精度 | 實際溫度與設(shè)定值的偏差 | ± ℃（伺服控制） |
| 負(fù)載能力 | 箱內(nèi)可容納的最大試樣尺寸/重量 | 1m3/200kg |
| 采樣率 | 溫度數(shù)據(jù)記錄頻率 | 1次/秒 |
| 安全聯(lián)鎖 | 防止誤操作的保護(hù)機制（如超溫自動斷電） | 符合IEC 61010-1 |
| 參數(shù) | 選型依據(jù) |
|---|---|
| 溫度均勻性 | 箱內(nèi)各點溫度差值（≤2℃為優(yōu)），影響測試結(jié)果一致性 |
| 升溫/降溫速率 | 從室溫到最低溫的時間（如-70℃需≤4h），需匹配產(chǎn)品實際使用場景 |
| 制冷方式 | 復(fù)疊式（深低溫）或單級壓縮（中低溫），影響能效與維護(hù)成本 |
| 通訊接口 | 485/以太網(wǎng)/WiFi，用于數(shù)據(jù)遠(yuǎn)程監(jiān)控與集成 |
| 型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| LTC-70A | -70℃～+80℃ | 不支持濕度 | 3 | ±1℃ | GB/T | 應(yīng)急停機按鈕 |
| LTC-40B | -40℃～+120℃ | 20%～98%RH | 1m3 | ± ℃ | IEC 60068-2-1 | 觸摸屏+數(shù)據(jù)追溯 |
| LTC-20C | -20℃～+150℃ | 不支持濕度 | 2m3 | ±2℃ | MIL-STD-810G | 防爆設(shè)計（Ex d IIB） |
| 驗收項 | 合格標(biāo)準(zhǔn) | 工具/方法 |
|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 各點溫差≤2℃ | 多點溫度記錄儀 |
| 降溫速率 | 從+20℃到-70℃≤4h | 計時器+溫度曲線分析 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫報警后30秒內(nèi)切斷加熱電源 | 模擬超溫觸發(fā)測試 |
| 噪聲 | ≤65dB（距箱體1m處） | 聲級計 |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 無法達(dá)到設(shè)定低溫 | 制冷劑泄漏/壓縮機故障 | 檢漏補焊/更換壓縮機 |
| 溫度波動超標(biāo) | 傳感器校準(zhǔn)失效/控制算法錯誤 | 重新校準(zhǔn)傳感器/升級控制程序 |
| 箱體結(jié)霜嚴(yán)重 | 除濕系統(tǒng)故障/門封漏氣 | 檢修除濕模塊/更換門封條 |
Q1：低溫試驗箱與恒溫恒濕箱的區(qū)別是什么？
A1：低溫試驗箱僅控制溫度，而恒溫恒濕箱可同時調(diào)節(jié)溫濕度（如25℃/60%RH），適用于復(fù)合環(huán)境測試。
Q2：如何選擇制冷方式？
A2：深低溫（-40℃以下）需復(fù)疊式制冷，中低溫（-40℃～0℃）可用單級壓縮，前者成本高但效率穩(wěn)定。
Q3：設(shè)備校準(zhǔn)周期是多久？
A3：建議每12個月校準(zhǔn)一次，依據(jù)JJF 1101-2019《環(huán)境試驗設(shè)備溫度校準(zhǔn)規(guī)范》。
Q4：負(fù)載對測試結(jié)果有何影響？
A4：試樣熱容過大會導(dǎo)致溫度恢復(fù)延遲，建議負(fù)載不超過箱體容積的1/3。
Q5：進(jìn)口與國產(chǎn)設(shè)備如何選擇？
A5：進(jìn)口設(shè)備（如德國WEISS）精度高但維護(hù)成本高，國產(chǎn)設(shè)備（如重慶銀河）性價比優(yōu)，需根據(jù)預(yù)算與測試需求權(quán)衡。
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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