佑科光照試驗箱,精準(zhǔn)模擬光照環(huán)境

隆安
2025-12-10 08:54:20
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內(nèi)容摘要：佑科光照試驗箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備，適用于電子元器件、光伏材料、汽車內(nèi)飾等領(lǐng)域。選型需關(guān)注溫度范圍、濕度控制、容積匹配及安全聯(lián)鎖功能，優(yōu)先選擇符合IEC 6006...

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佑科光照試驗箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備，適用于電子元器件、光伏材料、汽車內(nèi)飾等領(lǐng)域。選型需關(guān)注溫度范圍、濕度控制、容積匹配及安全聯(lián)鎖功能，優(yōu)先選擇符合IEC 60068、GB/T 2423等標(biāo)準(zhǔn)的廠商。采購流程需嚴(yán)格驗收校準(zhǔn)，避免因參數(shù)虛標(biāo)或維護(hù)缺失導(dǎo)致測試失效。

快速答案卡片

問題	答案
佑科光照試驗箱核心參數(shù)	溫度范圍：-70℃~+300℃；濕度范圍：10%~98%RH；容積：100L~2000L
關(guān)鍵選型標(biāo)準(zhǔn)	IEC 60068-2-5（太陽輻射）、GB/T 2423.24（模擬光照）
典型故障處理	溫度波動超標(biāo)→檢查PID參數(shù)；濕度異常→校驗傳感器
采購避坑點	拒絕無計量證書設(shè)備，要求提供FAT/SAT測試報告

技術(shù)參數(shù)與選型決策

核心參數(shù)解釋表

參數(shù)	定義	典型值	重要性
溫度均勻性	工作室內(nèi)各點溫差	≤±2℃	影響老化一致性
光照強(qiáng)度	紫外/可見光輻射量	500~1200W/m2	光伏材料測試關(guān)鍵
控制方式	PID/模糊控制	PID+SSR固態(tài)繼電器	精度與穩(wěn)定性
安全聯(lián)鎖	超溫/過載保護(hù)	雙回路獨立檢測	防止設(shè)備損毀

選型決策流程

明確測試需求：試樣尺寸（如150mm×150mm光伏板）、負(fù)載類型（電子/材料）
匹配關(guān)鍵參數(shù)：溫度范圍需覆蓋最嚴(yán)苛工況（如汽車電子需-40℃~+150℃）
驗證合規(guī)性：要求廠商提供CNAS認(rèn)可的校準(zhǔn)證書
預(yù)算分配：基礎(chǔ)型（10萬以內(nèi)）vs 高端型（20萬+，帶光譜調(diào)節(jié)功能）

詢價模板示例

致：XX廠商
需采購佑科光照試驗箱1臺，要求：
1. 溫度范圍：-60℃~+180℃，均勻性≤±1.5℃
2. 光照系統(tǒng)：氙弧燈，可調(diào)光譜（290-800nm）
3. 符合標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-5、ISO 4892-2
請?zhí)峁┘夹g(shù)方案、報價及FAT/SAT計劃。

典型應(yīng)用場景與失效機(jī)理

電子元器件老化

應(yīng)用場景：IC芯片、電容的高溫加速壽命試驗（HALT）。失效機(jī)理：電解液揮發(fā)導(dǎo)致電容容量衰減，需控制溫度波動≤±1℃以避免熱應(yīng)力疊加。

光伏材料測試

應(yīng)用場景：晶硅電池片的光致衰減（LID）測試。失效機(jī)理：紫外光導(dǎo)致EVA膠膜黃變，需模擬AM1.5光譜（1000W/m2）并持續(xù)1000小時。

汽車內(nèi)飾耐候性

應(yīng)用場景：儀表板塑料件的老化測試。失效機(jī)理：高溫高濕環(huán)境下，PP材料析出小分子導(dǎo)致表面發(fā)粘，需控制濕度在85%RH±3%。

主流型號對比表

型號	溫度范圍	濕度范圍	容積（L）	控制精度	符合標(biāo)準(zhǔn)	附加特性
YK-GX-100	-20℃~+100℃	30%~80%RH	100	±0.5℃	GB/T 2423	基礎(chǔ)光照
YK-GX-500	-70℃~+180℃	10%~98%RH	500	±1.0℃	IEC 60068	氙燈光譜可調(diào)
YK-GX-2000	-40℃~+300℃	5%~95%RH	2000	±1.5℃	ASTM D4329	多通道數(shù)據(jù)采集