掃描電鏡在觀測樣品時需要滿足一系列條件，以確保樣品的穩(wěn)定性和觀察的準確性。這些條件主要包括：

形貌結構形態(tài)：樣品需要能夠承受高真空環(huán)境。SEM掃描電鏡使用電子束掃描物體表面進行成像，而空氣的存在可能會使電子束變形，從而影響掃描效果。因此，樣品B須在高真空狀態(tài)下保持穩(wěn)定。

樣品表面導電性：樣品表面需要具有導電性。在掃描電鏡高能電子束連續(xù)掃描過程中，樣品表面會逐漸累積負電荷，如果導電性差，可能會產生荷電效應，導致圖像晃動、亮度突變等問題。如果樣品的導電性較差，可以通過鍍金處理等方法來提高其導電性。

樣品制備：樣品的制備過程也非常關鍵。樣品可以是塊狀或粉末顆粒，但無論哪種形式，都需要確保樣品表面的清潔度，并且樣品應干燥，不含水分、溶劑油脂等揮發(fā)物。此外，保護樣品觀察表面不受損傷和污染也是必要的。樣品的大小也需要適合在樣品臺上放置及移動，直徑通常應小于2cm，高度低于1.5cm，較大的樣品需進行切割以確定合適的取樣部位。

其他特殊要求：對于某些特殊樣品，如磁性材料，通常不建議直接在SEM掃描電鏡下觀察。如果確實需要觀察這種材料，建議先進行消磁處理。同時，樣品需要是無毒、無放射性、無污染和無水的，并且成分穩(wěn)定。

總的來說，為了確保掃描電鏡觀察的準確性和穩(wěn)定性，樣品的制備和選擇B須滿足上述條件。